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首頁(yè) > 新聞動(dòng)態(tài) > 泰克聚焦大數(shù)據(jù)和工業(yè)4.0時(shí)代測(cè)試測(cè)量技術(shù)及解決方案泰克2015年度創(chuàng)新論壇啟動(dòng)，聚焦大數(shù)據(jù)和工業(yè)4.0時(shí)代測(cè)試測(cè)量技術(shù)及解決方案
| 泰克公司日前宣布，泰克2015年度創(chuàng)新論壇(TIF)，本屆TIF將與業(yè)界工程師共同分享泰克的產(chǎn)品突破以及滿足大數(shù)據(jù)時(shí)代以能運(yùn)算為核心的多種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測(cè)試方案。論壇現(xiàn)場(chǎng)還設(shè)立了12個(gè)展位，讓與會(huì)者參觀、調(diào)試泰克各種測(cè)試測(cè)量解決方案和產(chǎn)品。 移動(dòng)智能設(shè)備和云數(shù)據(jù)處理迅猛發(fā)展，特別是工業(yè)4.0時(shí)代的到來(lái)，使得云計(jì)算、云存儲(chǔ)、移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)、智能硬件、多媒體高清顯示設(shè)備等熱門(mén)技術(shù)迅速普及，為新一輪的設(shè)計(jì)和測(cè)試測(cè)量技術(shù)帶來(lái)了革新與挑戰(zhàn)。 為此，本屆創(chuàng)新論壇以“自主創(chuàng)新，工業(yè)4.0時(shí)代的測(cè)試測(cè)量"為主題，用十多個(gè)熱點(diǎn)專(zhuān)題與與會(huì)者深度探討工業(yè)4.0時(shí)代將帶來(lái)的測(cè)試測(cè)量挑戰(zhàn)與應(yīng)對(duì)之道?！叭绾胃拥慕鉀Q工業(yè)4.0核心技術(shù)互聯(lián)互通的測(cè)試問(wèn)題，對(duì)工程師來(lái)說(shuō)顯得非常迫切和必要。"泰克公司大中華區(qū)市場(chǎng)總監(jiān)徐贇指出，“泰克公司一直致力于應(yīng)對(duì)工業(yè)發(fā)展中的各種測(cè)試挑戰(zhàn)，擁有業(yè)界、創(chuàng)新型的綜合測(cè)試解決方案，能幫助工程師地解決各種挑戰(zhàn)。本次TIF四地研討會(huì)主題豐富，將幫助中國(guó)工程師提前為應(yīng)對(duì)工業(yè)4.0時(shí)代的測(cè)試測(cè)量挑戰(zhàn)做好準(zhǔn)備。" DPO70000SX系列示波器以顛覆性架構(gòu)定義示波器新境界 在本屆TIF上，泰克公司也將攜劃時(shí)代的DPO70000SX系列示波器亮相各大會(huì)場(chǎng)，由專(zhuān)家介紹DPO70000SX的技術(shù)異步時(shí)序交織(ATI)是如何實(shí)現(xiàn)傲視業(yè)界的低噪聲、高保真的信號(hào)實(shí)時(shí)采集，并分享DPO70000SX是如何應(yīng)用于超寬帶、相干光、前沿研究、雷達(dá)及高速串行數(shù)據(jù)通信等相關(guān)的測(cè)試領(lǐng)域。 迎接USB3.1時(shí)代的變化與挑戰(zhàn) 通用串行總線 (USB) 已經(jīng)成長(zhǎng)為很多嵌入式行業(yè)、汽車(chē)和消費(fèi)應(yīng)用中的常用接口。以往的USB 2.0 工作于480 Mb/s，而現(xiàn)行的USB 3.1 將數(shù)據(jù)速率提升了20倍、高達(dá)10Gb/s，這給工程師帶來(lái)了全新的檢定和驗(yàn)證挑戰(zhàn)。本屆TIF上，泰克將關(guān)注該主題的四個(gè)重點(diǎn)方面：USB 3.1和3.0之間的物理層差異；10 Gb/s通道定義和抖動(dòng)預(yù)算；USB Type-C連接器測(cè)試概述；新的128b/132b編碼方式及其對(duì)測(cè)試解決方案的影響。 加速多媒體高清設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試 移動(dòng)多媒體平臺(tái)的高速發(fā)展一系列顯示技術(shù)的革命，因此多媒體高清設(shè)備接口測(cè)試也將是本屆TIF關(guān)注的一個(gè)重點(diǎn)。論壇現(xiàn)場(chǎng)，泰克專(zhuān)家將介紹與HDMI2.0、DisplayPort1.2/1.3相關(guān)的顯示接口標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展、測(cè)試要點(diǎn)和挑戰(zhàn)，以及如何使用泰克的測(cè)試方案加速驗(yàn)證周期。 十四個(gè)專(zhuān)題，測(cè)試測(cè)量熱點(diǎn)全覆蓋 “在本屆TIF研討會(huì)上，北京、西安和上海站我們安排了A、B兩個(gè)會(huì)場(chǎng)，以滿足工程師對(duì)不同測(cè)試技術(shù)與方案的需求。并根據(jù)各地工程師的實(shí)際需求，論壇專(zhuān)題演講安排有所側(cè)重。" 徐贇介紹道。據(jù)悉，除上述論壇主題外，DDR4的標(biāo)準(zhǔn)更新及測(cè)試方案、泰克混合域示波器動(dòng)手實(shí)用技能課程、泰克射頻創(chuàng)新解決方案、可穿戴設(shè)備耗電測(cè)試、泰克智能實(shí)驗(yàn)室、信號(hào)完整性分析及一致性測(cè)試，以及覆蓋至V波段的超寬帶信號(hào)仿真及測(cè)試、克服先進(jìn)顯示材料的測(cè)量挑和工業(yè)4.0時(shí)代的互聯(lián)互通測(cè)試解決方案，共十四個(gè)專(zhuān)題內(nèi)容涵蓋了當(dāng)前測(cè)試測(cè)量的主要熱點(diǎn)?！疤┛说哪甓葎?chuàng)新論壇一直是工程師了解測(cè)試測(cè)量技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢(shì)的年度盛會(huì)，今年我們將繼續(xù)為與會(huì)者帶來(lái)一場(chǎng)測(cè)試測(cè)量技術(shù)的饕餮盛宴！"徐贇表示。 |
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